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FM-204G饲料颗粒谷物硬度计
日期:2025-01-15 22:35:59 点击:421
FM-204G饲料颗粒谷物硬度计是我公司最新设计研发的一种数显式谷物饲料颗粒硬度计。其具有高精度、易操作、携带方便等优点。科学的使用测试范围为满量程的10%~100%,计量部门建议不要使用满量程的1%以下部分。同时,在仪器和被测试物就位后开始测试前,按ZERO(置零)键清零以消除夹具等重量
FM-204T片剂硬度计
日期:2025-01-15 22:28:11 点击:450
FM-204T系列片剂硬度计是我公司最新设计研发的一种数显式片剂硬度计。其具有高精度、易操作、携带方便等优点。科学的使用测试范围为满量程的10%~100%,计量部门建议不要使用满量程的1%以下部分
LW-20韦氏硬度计LW-20A/LW-20B/LW-B75/LW-B75B/LW-BB75/LW-BB75B
日期:2025-01-14 22:32:20 点击:408
LW-20韦氏硬度计LW-20A/LW-20B/LW-B75/LW-B75B/LW-BB75/LW-BB75B用于快速检测铝合金型材、管材、板材、铝工 件及其他软金属的硬度。是一种可现场快速测试铝合金硬度的仪器。韦氏硬度计使用方便,一卡即可,硬度值直接读出。 用于快速检测铝合金型材、管材、板材、铝工件及其他软金属的硬度。特别适于在生产现场、销售现场或施工现场对成批产品进行快速、非破坏性的逐件合格检查。
MRX-XJB-4-500mL小型行星真空搅拌机
日期:2024-11-07 20:00:49 点击:474
MRX-XJB-4-500mL小型行星真空搅拌机本产品是集真空混合、分散为一体的高效设备,适用于电池实验过程中正,负极浆料混合工序,以及粉状材料、各种陶瓷的混合;由于搅拌在真空状态完成,完全实现了无气泡,因此提高了材料的填充性及模型的致密性。
菲希尔FMP30 铁素体仪FERITSCOPE_FMP30
日期:2024-10-20 21:26:22 点击:617
菲希尔FMP30 铁素体仪FERITSCOPE_FMP30侵蚀性物质以及高压的情况下,铁素体含量至关重要。特别是涉及到化工厂、能源设施及工厂中的现场测量时,FISCHER 手持式设备的优势将非常显著。为 FERITSCOPE FMP30 提供多种探头,通过这些探头,即使在难以触及的区域中也能够可靠地测定铁素体的含量。
菲希尔SIGMASCOPE SMP350测定非铁磁性金属电导率仪
日期:2024-10-20 21:25:19 点击:639
菲希尔SIGMASCOPE SMP350测定非铁磁性金属电导率仪适用于测定非铁磁性金属(如铝或铜)的电导率。通过测得的电导率能够进一步得出与热处理材料的硬度与强度相关的结论。从而建立热损伤与材料疲劳的证据。为此仪器使用了相敏涡流法。该方法经认证可用于符合标准 DIN EN 2004-1 与 ASTM E 1004 的电导率测量。
菲希尔贵金属检测SIGMASCOPE® GOLD
日期:2024-10-20 21:24:39 点击:659
菲希尔贵金属检测SIGMASCOPE® GOLD破坏性的测试会导致一定量的价值损失。随着产品线SIGMASCOPE GOLD和X射线的推出,FISCHER提供了两种无损的方法,在贵金属币和金条的真假需要快速、精确的测试时相得益彰
菲希尔CMS2/STEP库伦仪COULOSCOPE® CMS2库仑法金属镀层厚度测厚仪
日期:2024-10-20 21:23:43 点击:643
菲希尔CMS2/STEP库伦仪COULOSCOPE® CMS2库仑法金属镀层厚度测厚仪作为测量镀层厚度最简单的方法之一,库仑法可以用于各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构, 当允许破坏性测量时,它提供了一个比X射线更经济的替代方法。
菲希尔Fischer MMS® INSPECTION DFT+DMP+SPG
日期:2024-10-20 21:19:53 点击:621
菲希尔Fischer MMS® INSPECTION DFT+DMP+SPG用于测量和记录与涂装过程有关的所有气象参数。SPG机型可以在瞬间完成对表面粗糙度的测量。所有这三款仪器都包含于我们的防腐套装之中。另外还可选择Bresle盐分分析套件,用于快速简便地测量表面盐污染情况。
菲希尔ST30微米划痕仪全自动划痕仪
日期:2024-10-20 21:19:03 点击:645
菲希尔ST30微米划痕仪全自动划痕仪简介可以用于分析薄膜及涂层材料的结合力和附着力等特性,例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩绘釉漆、光学薄膜、微电子镀膜、保护性薄膜、装饰性涂层等材料表面的附着力、断裂及形变分析,基体可以为软质或硬质材料,包括金属、合金、橡胶、半导体、玻璃、矿物、陶瓷以及有机材料等。
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
日期:2024-10-20 21:18:04 点击:648
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。
菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪FISCHERSCOPE® HM2000
日期:2024-10-20 21:16:18 点击:594
菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577,采用仪器化压入测试方法的高性价比纳米压痕仪。采用该仪器,可测量难以对位的被测位置,十分适用于研发、质量控制、来料检验和过程控制等领域。
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