菲希尔FMP30 铁素体仪FERITSCOPE_FMP30侵蚀性物质以及高压的情况下，铁素体含量至关重要。特别是涉及到化工厂、能源设施及工厂中的现场测量时，FISCHER 手持式设备的优势将非常显著。为 FERITSCOPE FMP30 提供多种探头，通过这些探头，即使在难以触及的区域中也能够可靠地测定铁素体的含量。

菲希尔SIGMASCOPE SMP350测定非铁磁性金属电导率仪适用于测定非铁磁性金属（如铝或铜）的电导率。通过测得的电导率能够进一步得出与热处理材料的硬度与强度相关的结论。从而建立热损伤与材料疲劳的证据。为此仪器使用了相敏涡流法。该方法经认证可用于符合标准 DIN EN 2004-1 与 ASTM E 1004 的电导率测量。

菲希尔贵金属检测SIGMASCOPE® GOLD破坏性的测试会导致一定量的价值损失。随着产品线SIGMASCOPE GOLD和X射线的推出，FISCHER提供了两种无损的方法，在贵金属币和金条的真假需要快速、精确的测试时相得益彰

菲希尔CMS2/STEP库伦仪COULOSCOPE® CMS2库仑法金属镀层厚度测厚仪作为测量镀层厚度最简单的方法之一，库仑法可以用于各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测量时，它提供了一个比X射线更经济的替代方法。

菲希尔Fischer MMS® INSPECTION DFT+DMP+SPG用于测量和记录与涂装过程有关的所有气象参数。SPG机型可以在瞬间完成对表面粗糙度的测量。所有这三款仪器都包含于我们的防腐套装之中。另外还可选择Bresle盐分分析套件，用于快速简便地测量表面盐污染情况。

菲希尔ST30微米划痕仪全自动划痕仪简介可以用于分析薄膜及涂层材料的结合力和附着力等特性，例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩绘釉漆、光学薄膜、微电子镀膜、保护性薄膜、装饰性涂层等材料表面的附着力、断裂及形变分析，基体可以为软质或硬质材料，包括金属、合金、橡胶、半导体、玻璃、矿物、陶瓷以及有机材料等。

XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。

菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577，采用仪器化压入测试方法的高性价比纳米压痕仪。采用该仪器，可测量难以对位的被测位置，十分适用于研发、质量控制、来料检验和过程控制等领域。

菲希尔Fischer ST200载荷渐进式划痕仪载荷渐进式的划痕仪完全规避了传统测量手段的弊端，通过不断增加的载荷很容易在一次测量中找到各个临界位置，如涂层破裂，破碎或分离点，在可控的实验室环境中真实模拟了现实中产品的受力状态，更好的检测了涂层间的结合力以及涂层和基体之间的附着力等性能。 渐进式载荷划痕示意图：

菲希尔HM500 LIGHT纳米压痕仪PICODENTOR® HM500是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577-1，采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压头，连续不断地以加大载荷的方式压入被测材料中，然后再行卸载。在整个测量过程中，实时记录相对应的压入深度与载荷大小

菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔HM500纳米压痕仪显微硬度测量系统采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压头，连续不断地以加大载荷的方式压入被测材料中，然后再行卸载。在整个测量过程中，实时记录相对应的压入深度与载荷大小