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ST-21H方块电阻测试仪

发布时间:2019-02-26 12:30:09 作者:深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 8137 次
ST-21H方块电阻测试仪 ST-21H方块电阻测试仪 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明
ST-21H方块电阻测试仪
ST-21H方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-21H方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

ST-21H方块电阻测试仪特点
1、采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2、以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3、采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4、体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5、特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6、探头带抗静电模块
ST-21H方块电阻测试仪技术参数
测量范围
  
按方块电阻量值大小分为二个量程档:
   1.方块电阻 1.00~1999.9Ω/□;
   2.方块电阻 10.0~19999Ω/□;
   最小分辨率:0.1Ω/□
恒流源: 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器:
  量程:0~199.99mv;
  分辨率:10μv;
  方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度:在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格:间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
电源:9V叠层电池1节
 ST-21H方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直线
 ST-21H方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形

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