ST-20掌上型方块电阻测试仪

ST-20掌上型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

ST-20掌上型方块电阻测试仪
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
2、低功耗
3、采用单个电池供电，带电池欠压指示
4、 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6、探头带抗静电模块
ST-20掌上型方块电阻测试仪

测量范围	基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口) 扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口)
测量不确定度	≤5%
探针规格	探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
恒流源	测量过程误差：≤±0.8%
电源	9V叠层电池1节