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ST-20掌上型方块电阻测试仪

发布时间:2019-02-26 13:01:47 作者:深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 7945 次
ST-20掌上型方块电阻测试仪 ST-20掌上型方块电阻测试仪 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄
ST-20掌上型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-20掌上型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定
2、低功耗
3、采用单个电池供电,带电池欠压指示
4、 仪器体积仅为:130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6、探头带抗静电模块
ST-20掌上型方块电阻测试仪
测量范围 基本量程:方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程:方块电阻100-1999(Ω/口)
测量不确定度 ≤5%
探针规格  探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
恒流源  测量过程误差:≤±0.8%
电源  9V叠层电池1节

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