菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪 用于在线测量的FISCHERSCOPE. X-RAY 这类X射线荧光测量系统，用于连续镀层厚度测量和分析，主要是为了对生产线进行实时的质量控制而设计的。

美国DeFelsko公司PosiTector 200超声波涂层测厚仪应用超声波技术，可容易、准确地测量单层或多层涂膜的厚度。适用基材包括混凝土、木材、塑料、玻璃、陶瓷、金属以及其它很多材料。

X-8/8S触摸屏紫外可见分光光度计单机功能丰富，光度测量、定量测量、动力学测量、光谱扫描、多波长测试、DNA/蛋白质测试均能在同一界面实现，悬架式光学系统设计，整体光路固定在16mm厚的切削铝制基座上，确保长期测试的可靠稳定性

OPHIR功率计JUNO功率计Juno微型USB电脑连接器与BeamTrack探头联用，可进行光斑位置和光斑尺寸测量与热释电探头联用时，记录数据速度达10KHZ，便于StarLab应用，对功率，能量数据进行数据平均，统计处理，柱状图显示

HY-303A工作用辐射温度计 HY-303A工作用辐射温度计 基于被测物体的红外热辐射强度与其温度之间的单值函数关系来测量；测量时无需接触被测物体，因此可安全地检测难以接触的物体的温

Ophir Starbright 功能丰富的激光功率能量计7Z01580可选择条形图数字显示、模拟表针显示、线图（针对激光调谐）显示、脉冲图显示、通过/未通过显示、位置显示、稳定性显示、实时统计显示，复杂的功率和能量记录，包括使用热释电传感器在高达5000Hz的频率下对每个数据点进行记录