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Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD
日期:2018-07-28 21:27:53 点击:6720
Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的最高要求而专门设计的。在配备了最新的硅漂移探测器后,特别适合于无损测量数纳米厚度的
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 21:24:25 点击:6726
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 配备了比例计数管探测器,适用于质量控制,来料检验和生产监控。由于它测量空间大,故而适合测量有复杂几何
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 21:20:20 点击:15401
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪 用于在线测量的FISCHERSCOPE. X-RAY 这类X射线荧光测量系统,用于连续镀层厚度测量和分析,主要是为了对生产线进行实时的质量控制而设计的。
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 20:46:15 点击:15626
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪 无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析,FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以为任何应用提供最佳仪器选择。除了拥有很多的创新和
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ST-20掌上型方块电阻测试仪 ST-20掌上型方块电阻测试仪 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄
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