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LT-2型单晶少子寿命测试仪
日期:2023-07-09 22:57:44 点击:1950
LT-2型单晶少子寿命测试仪根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。
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