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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL
日期:2024-10-20 21:13:00 点击:1534
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 21:24:25 点击:7127
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 配备了比例计数管探测器,适用于质量控制,来料检验和生产监控。由于它测量空间大,故而适合测量有复杂几何
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