XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
发布时间：2024-10-20 21:18:04 作者：深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 2069 次
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X
射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行精确微调。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
XDV-SDD最多可同时测定从铝（13）到铀（92）中的24 种元素
测量门向上开启的台式仪器，侧面开槽设计
马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台
马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。
仪器配备带铍窗口的微聚焦钨管，三挡可调节高压，6个可切换的基本滤片。
可按要求，提供额外的XDV 型产品更改和XDV 仪器技术咨询
热门产品推荐
CTM082 静电放电电压及放电次数测试仪 CTM082 静电放电电压及放电次数测试仪 ：SCS（原3M品牌），探测ESD事件，仅示意放电电压相对强度及放电次数 探测静电放电（ESD）事件 具有信号分
OPHIR功率计JUNO功率计Juno微型USB电脑连接器与BeamTrack探头联用，可进行光斑位置和光斑尺寸测量与热释电探头联用时，记录数据速度达10KHZ，便于StarLab应用，对功率，能量数据进行数据平均，统计处理，柱状图显示
奥豪斯 STARTER 300C 便携式电导率仪 奥豪斯ohaus STARTER 3100C 实验室电导率仪 精准高效，应用广泛，STARTER 3100C和300C 都是0.5级的电导率仪。操作简便，集成了多种功能；可广泛应用于科学研
Prostat PED-718 ESD静电事件检测器要确认您的ESD保护是否有效，需要了解您的环境中是否存在ESD事件，这些事件的强度以及发生的次数。PED-718是向您展示ESD计划有效性的合适工具。
英国C.V公司CV-DSAS001邵氏A型硬度计 英国C.V公司CV-DSAS001邵氏硬度计 备有邵氏A和邵氏D两种型号，其中英国C.V公司V-SA邵氏硬度计支架设有1KG预压，邵氏D硬度计支架设有5KG预压；数显邵氏硬
德国Fischer PERMASCOPE MP0无损测厚仪 小巧、便携、耐用：FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列无损测厚仪可以快速、精确地测量涂镀层的厚度，满足客户对于FISCHER一贯的精度等级的期待。它装有
