超声发射接收仪器德国KK超声波探伤仪汕头超声超声探伤仪时代超声波探伤仪紫外线防护用品紫外线强度计照度计示波器校准仪蓄电池检测仪张力仪扭矩仪测力计校准仪高斯计弹簧试验机光源-光功率计温湿度计过程校准仪紫外线灯LCR测试仪接地电阻测试仪万用表转速表
当前位置: 主页 > 测试设备 > 涂层测厚仪 > 菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪

菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪

发布时间:2018-09-23 16:18:21 作者:深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 15457 次
菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪 德国菲尼克斯PHYNIX生产的 菲尼克斯Surfix BFN膜厚仪 电涡流,磁感应的测厚仪,有碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示统计数据.可存储前200测值
菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪
德国菲尼克斯PHYNIX生产的菲尼克斯Surfix BFN膜厚仪电涡流,磁感应的测厚仪,有碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示统计数据.可存储前200测值,可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层,量程1500μm.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm.读数背景光,有红外可接PC及打印机    菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪                             
菲尼克斯Surfix BFN膜厚仪可选型号:标准型(B),统计型 (不带Basic)
 
Surfix (B)F 磁性型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)
 
Surfix (B)N 涡流型适合有色金属材上的膜厚测量,非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)
Surfix (B)FN 型磁性和涡流两种测厚方法(包含上面两种测量原理),它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。符合以下标准国内标准: GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
菲尼克斯Phynix Surfix FN 涂层测厚仪
           测量范围  0-1500µm,0 - 60mils
           误差  1µm或1%读数
           分辨率  0.1µm或<测量读值的2%
           显示  背景照明,四位读数显示,两行统计数字显示,英文操作指南
           基体蕞小面积  5mmX5mm
           基体蕞小曲率  凸面:1.5mm 凹面:5mm
           基体蕞小厚度  F型:0.2mm ,N型: 50µm
           校准  厂家校准,零校准,校准箔校准
   数据统计(仅限统计型)  读数个数(蕞多9999个),平均值,标准偏差,蕞大值和蕞小值
 数据存储(仅限统计型)  蕞多200个测量数值,可单独调出
数据值(仅限统计型)  上下限可调,声音报警
           数据接口  红外通讯,IrDA标准
           环境温度/表面温度  0-50℃/150℃
           电源  2节1.5伏AA碱性干电池
           仪器尺寸  137x66x23
           符合标准  DIN,ISO,ASTM,BS

热门产品推荐
UV-5100型紫外可见分光光度计产品类型涵盖了可见分光光度计和紫外可见分光光度计两种,既有可以单机、联机操作的按键式,又有带给用户全新操作体验的触摸屏,核心元件均经过严苛筛选,确保了测试的稳定性和精确度,系列丰富,可以为用户提供更合适的机型选择。
ZJ-50G型数显指示表检定仪(光栅、半自动)是检定百分表、千分表的专用仪器。仪器按照检定规程对百分表、千分表、内径百分表、内径千分表、杠杆百分表、杠杆千分表、大量程百分表、扭簧比较仪、机械式比较仪进行检定
奥豪斯 ohaus PX124ZH 电子分析天平 万分一内校天平 奥豪斯 ohaus PX124ZH 高精密电子天平 超高性价比之选,PX系列电子天平,广泛应用于实验室、工业和教育领域。不仅可以满足您的称重需
ST-21H方块电阻测试仪 ST-21H方块电阻测试仪 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明
UT71E 数字万用表UT71D,UT71C, UT71B, UT71A是一款高精度、高分辨率、真有效值智能型数字万用表。该系列万用表全功能可设置测量上下限,过量程报警。
ED300氧化膜测厚仪 ED300氧化膜测厚仪 是ED200的改进型。仪器性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》,
返回首页公司简介联系我们TAG标签 网站地图RSS订阅
公司地址:深圳市龙华区龙华街道东环二路48号企生活人工智能华盛园三层   联系邮箱:56817.cn@163.com
联系电话:0755-83982369,83982365  联系手机:18902438879,15920069059
CopyRight © 2002-2025 深圳市君达时代仪器有限公司 版权所有 粤ICP备09010331号 网站建设蚂蚁网络