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菲希尔Fischer Dualscope MPOR涂层测厚仪
日期:2018-07-31 21:40:51 点击:16320
菲希尔Fischer Dualscope MPOR涂层测厚仪 菲希尔Fischer Dualscope MPOR涂层测厚仪 小巧、方便且稳固 MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的
菲希尔Fischer HASCOPE PAINT涂层测厚仪
日期:2018-07-31 21:19:34 点击:6426
菲希尔Fischer HASCOPE PAINT涂层测厚仪 这款方便,笔状的PHASCOPE PAINT是简单快速地测量铁基金属和有色金属上油漆涂层的理想方案。由于其测量范围达到2500m,特别适合测量很厚的涂料。在智能
XAN500 X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-31 21:15:22 点击:6288
XAN500 X射线荧光光谱仪 手持式、台式、在线: XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能最多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合
菲希尔Fischer探头V1FGA1HR34磁感应探头
日期:2018-07-31 21:05:20 点击:16358
菲希尔Fischer探头V1FGA1HR34磁感应探头 Fischer代理V1FGA1HR34磁感应探头:货号604-183。带微处理芯片智慧型插拔式磁感应探头。特殊的探头用于测量直径大于7mm的轴套或管子内部。手柄到测量
菲希尔Fischer探头FGAB1.3
日期:2018-07-31 20:58:33 点击:16084
菲希尔Fischer探头FGAB1.3 菲希尔Fischer探头FGAB1.3 订货号:604-141,测量范围:0 - 2000 m.带微处理芯片的智慧型插入式磁感应探头。若需要时,可修改存储器。并有抗磨损涂层。电缆长度:
Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD
日期:2018-07-28 21:27:53 点击:6771
Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的最高要求而专门设计的。在配备了最新的硅漂移探测器后,特别适合于无损测量数纳米厚度的
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 21:24:25 点击:6775
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 配备了比例计数管探测器,适用于质量控制,来料检验和生产监控。由于它测量空间大,故而适合测量有复杂几何
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 21:20:20 点击:15455
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪 用于在线测量的FISCHERSCOPE. X-RAY 这类X射线荧光测量系统,用于连续镀层厚度测量和分析,主要是为了对生产线进行实时的质量控制而设计的。
德国菲希尔Fischer涂层探头
日期:2018-07-28 21:08:25 点击:16154
德国菲希尔Fischer涂层探头 面对几乎所有的工业应用,FISCHER 都可以提供合适的探头。这些都是针对各种不同的测量应用而定制的高精度装置。经过多年的不断发展和创新,FISCHER已经设
Picodentorr HM500微纳米压痕硬度测量仪
日期:2018-07-28 21:03:19 点击:6349
Picodentorr HM500 微纳米压痕硬度测量仪 Picodentorr HM500 微纳米压痕硬度测量仪 能够确定甚至在纳米范围的马氏硬度、弹性特征和材料参数。其在皮米范围的高精度的位移分辨率和仅仅几个
Fischerscope HM2000微纳米压痕测量系统
日期:2018-07-28 20:58:46 点击:14862
Fischerscope HM2000微纳米压痕测量系统 Fischerscope HM2000微纳米压痕测量系统 一款根据载荷/压痕深度法精确测定马氏硬度的界面友好而强大的测量系统。并且,其他重要材料特征,如:维氏
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪
日期:2018-07-28 20:46:15 点击:15670
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪 无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析,FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以为任何应用提供最佳仪器选择。除了拥有很多的创新和
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台湾泰仕 TES-1330A 数字式照度计 TES-1330A / TES-1332A / TES-1334A 测量范围自0.01 Lux至200,000 Lux 高准确性及快速响应 读值锁定功能 光谱响应接近CIE明视函数 余弦角度修正 模拟输出信号供记录用
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