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CT200涂层测厚仪

发布时间:2018-05-19 10:39:13 作者:深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 15548 次
本文TAG标签:涂层测厚仪CT200
CT200涂层测厚仪-精度(1%H+1um)覆层测厚仪 CT200涂层测厚仪功能特点: 1.采用码值稳定的AD测量方法,淘汰频率不稳的振荡电路法,使F1.5示值误差达到1%H+1 um,高于目前覆层测厚仪普遍的
CT200涂层测厚仪-精度(1%H+1um)覆层测厚仪
CT200涂层测厚仪功能特点:
1.采用码值稳定的AD测量方法,淘汰频率不稳的振荡电路法,使F1.5示值误差达到1%H+1 um,高于目前覆层测厚仪普遍的3%H+1 um示值误差;
2.采用精密检波电路,50um以下测量值更加稳定准确
3.采用数字技术,有效减小现场电磁干扰对测值影响。
4.磁性测厚方法(配F型测头),可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。
5.磁性测厚方法可配F1.5,F3.5,F10多种探头。探头采用红宝石耐磨设计,淘汰镀铬设计,延长探头使用寿命,保持长期使用测量精度。
6.可定制测量范围从200um到20mm的各种异型F传感器。
7.涡流测厚方法,配N型测头测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
8.涡流测厚方法可配N1.5,N3.5探头,可定制测量范围从200um到20mm的各种异型N传感器。
9.具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式
10.具有存贮功能:可同时存贮测量值和测试时间信息
11.操作过程有蜂鸣声提示
12.设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
13.高亮LED背光显示,显示更清晰
14.探头前端保护套可拆除,适应小尺寸空间测量
CT200涂层测厚仪
CT200涂层测厚仪技术参数:
工作原理 磁感应与电涡流
测量范围 1500um     FN1.5
3500um     FN3.5
7500um    F7.5
低限分辨率 0.1um(0-999.9um)   1um(1000um以上)
示值误差 1%H+1 um      (F1.5)
测试条件 最小曲率半径1.5mm      (FN1.5)
  最小面积直径Φ7mm       (FN1.5)
  基体临界厚度0.5mm      (FN1.5)
使用环境 温度0-40℃
  湿度20-90%
  无强磁场
电源 3.7V锂电池
充电器 USB
外形尺寸 152*74*35mm
重量 370g
标准配置 主机,探头,校准片,基体,充电器

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