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TLS-S200II 全自动弹簧试验机
日期:2019-05-03 12:57:51 点击:15722
TLS-S200II 全自动弹簧试验机 TLS-S200II 全自动弹簧试验机主要用途及适用范围: 数显式全自动弹簧拉压试验机依据JB/T77962005《弹簧拉压试验机技术条件》规定的技术要求制成。主要用于测
TLS-S500II 全自动弹簧试验机
日期:2019-05-03 12:56:48 点击:15459
TLS-S500II 全自动弹簧试验机 TLS-S500II 全自动弹簧试验机主要用途及适用范围: 数显式全自动弹簧拉压试验机依据JB/T77962005《弹簧拉压试验机技术条件》规定的技术要求制成。主要用于测
TLS-S100II 全自动弹簧试验机
日期:2019-05-03 12:51:37 点击:15360
TLS-S100II 全自动弹簧试验机 TLS-S100II 全自动弹簧试验机主要用途及适用范围: 数显式全自动弹簧拉压试验机依据JB/T77962005《弹簧拉压试验机技术条件》规定的技术要求制成。主要用于测
PosiTest DFT Ferrous涂层测厚仪
日期:2019-04-24 23:15:11 点击:6608
PosiTest DFT Ferrous涂层测厚仪 美国DeFelsko公司 PosiTest DFT涂层测厚仪 系列包括PosiTest DFT-F涂层测厚仪和PosiTest DFT-COMBO涂层测厚仪。 PosiTest DFT涂层测厚仪特点 大屏幕液晶显示 快速、连续测量
PosiTest DFT Combo 涂层测厚仪
日期:2019-04-24 23:14:08 点击:6497
PosiTest DFT Combo 涂层测厚仪 美国DeFelsko公司PosiTest DFT涂层测厚仪系列包括PosiTest DFT-F涂层测厚仪和PosiTest DFT-COMBO涂层测厚仪。 PosiTest DFT Combo 涂层测厚仪 特点 大屏幕液晶显示 快速、连续
美国DeFelsko公司posiPen笔形涂层测厚仪
日期:2019-04-24 23:13:25 点击:6451
美国DeFelsko公司posiPen笔形涂层测厚仪 美国DeFelsko公司posiPen笔形涂层测厚仪 ,用于测量钢的油漆、搪瓷、电镀、热浸镀锌等非磁性涂层的厚度,尖端有一个非常小的独特的磁体,理想用
德国EPK公司 WetTest 湿膜测厚仪
日期:2019-04-24 23:12:56 点击:6468
德国EPK公司 WetTest 湿膜测厚仪 德国EPK公司用于对新涂的湿涂层进行快速简易的厚度测量。 只需将仪器伸入湿涂层里,直到接触到底材,从 16个不同的测量点读出厚度值。 德国EPK公司
美国DeFelsko公司PosiTector SHD邵氏橡胶硬度计
日期:2019-04-24 23:11:23 点击:6544
美国DeFelsko公司PosiTector SHD邵氏橡胶硬度计特点 用于测量非金属材料的压痕硬度。可选择邵氏A或邵氏D。 其中 : 邵氏A型适用于软塑料、软橡胶、氯丁橡胶、硅橡胶等材料。 邵氏D型适用
美国DeFelsko公司 PosiTector SPG表面粗糙度轮廓测量仪
日期:2019-04-24 23:09:51 点击:6499
美国DeFelsko公司 PosiTector SPG表面粗糙度轮廓测量仪 美国DeFelsko公司新推出的PosiTectorSPG表面粗糙度轮廓测量仪,应用于喷砂喷丸、有纹理涂层的表面轮廓的测量。测量准确,菜单方便,带
PosiTector RTR 表面粗糙度仪
日期:2019-04-24 23:09:02 点击:6446
PosiTector RTR 表面粗糙度仪 美国DeFelsko公司表面粗糙度仪PosiTectorRTR利用TestexTM Press-O-FilmTM拓片纸测量表面轮廓的参数。其中,PosiTectorRTR-P使用图像传感器,测量波峰密度(Pd)。 美国DeFelsk
兰泰TM-8810超声波测厚仪
日期:2019-04-17 23:17:23 点击:6523
兰泰TM-8810超声波测厚仪 兰泰TM-8810超声波测厚仪 应用:石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。可测量的材料:钢,铸钢,铝,紫铜
HCH-2000C+型超声波测厚仪
日期:2019-04-17 23:16:34 点击:6310
HCH-2000C+型超声波测厚仪 HCH-2000C+型超声波测厚仪 内部电路采用最新数字电子技术与微电脑技术,外部采用金属机壳制造而成,仪器体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键
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HI98703便携式多量程浊度测定仪(EPA标准)。大号样品比色皿配合优良光学系统,微处理器通过到达检光器的光强计算出浊度值;修正了颜色的干扰,具有色度补偿、光源自动补偿功能,避免了光源波动引起的干扰,无需频繁校准。
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